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品質管理

標準品/輸入品

散乱・光源配光特性測定装置

■GENESIA Gonio / Far Field Profiler
光源測定機 配光分布測定

製品特徴
散乱体の散乱配光特性、および光源の配光特性を2軸制御(θ,φ)の各方位で測定できます。

散乱体の散乱特性測定機能
透過散乱・反射散乱のいずれについても、光を照射したときの散乱光の配光特性を測定できます。 測定角度範囲は、透過・反射のいずれの散乱でも、光源の正面から真横まで(θ=0~90°)、周方向は半周(φ=0~180°)で測定できます。 照射光は試料に対して垂直にも斜めにも照射が可能になっています。 光源には白色 LED を使用しているため、フラットパネルディスプレイやプロジェクションスクリーンなどに使用される散乱体の特性を調べるのに最適です。 その他、塗装面や壁面などの装飾系の散乱特性を定量化することなどにもご使用いただけます。

光源の配光特性測定機能
光源の種類(LED、LD、フィラメントタイプ、ファイバー出射端、アセンブリ品等)に関わらず、発光部の大きさがφ15以下、外形が□60 x 厚み75mm以下の光源なら、その配光特性を測定可能です。 測定角度範囲は、光源の正面から斜め後ろ(θ=0~135°)、周方向は全周(φ=0~360°)で、広範囲で測定できます。 測定結果はエクセル等の表計算用の CSV 形式の他、LightTools の光源モデル形式、ZEMAX の Source File 形式で出力できます。 基本機能は弊社の従来の「光源測定機」と同等です。) 光源の測定例をご覧下さい。

■ダウンロード
取扱説明書(PDF形式)
初めての測定 (散乱測定)(PDF形式)
初めての測定 (光源配光測定)(PDF形式)

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